Оптические измерения.
Спектрофотометрические измерения проводили на спектрофотометре Perkin Elmer Lambda 35 в диапазоне длин волн 1100 – 190 нм. В качестве образца сравнения использовали дистиллированную воду при анализе наночастиц, полученных в матрице ПВС, и подложку Al2O3 при использовании стекла в качестве матрицы.
Ширину запрещенной зоны определяли из графиков в нормированных координатах по формуле:
(1)
где m* - масса экситона, Eg – ширина запрещенной зоны для объемного кристалла, d – размер частиц, h – постоянная планка.
Из литературных данных [8] для PbS: Eg = 0,41 эВ и m* = 0,1825 me, для PbTe: Eg = 0,37 эВ и m* = 0,154 me (me – масса электрона, равная 9,109*10-31 кг).
Смотрите также
Введение
Цель
практического эмиссионного спектрального анализа состоит в качественном
обнаружении, в полуколичественном или точном количественном определении
элементов в анализируемом веществе. В зависимост ...
Организация производства
В
данном разделе рассматривается организация производственного процесса на
проектируемом объекте, описывается режим работы этого объекта и рассчитывается
эффективный фонд времени работы ведущего об ...
Полистирол
...