Кварцевые стекла, активированные ионами Eu2+
Важнейшими параметрами активированных стекол, характеризующими эффективность преобразования энергия возбуждения в свечение, являются квантовый и энергетический выходы люминесценции. Если для редкоземельных ионов, люминесценция которых обусловлена запрещенными по четности f—f-переходами, эти параметры хорошо исследованы [1-4], то для активаторов, у которых излучательными являются состояния смешанной электронной конфигурации 4fn-15d (Еu2+ и Се3+), сведения об эффективности свечения крайне немногочисленны [5, 6]. Вместе с тем, кварцевые стекла с Еu2+ и Се3+ являются перспективными с точки зрения: использования их в качестве катодолюминофоров и детекторов ионизирующего излучения.
Проведено измерение абсолютных квантового и энергетического выходов люминесценции Еu2+ и Се3+ ,в кварцевых стеклах, при разных видах возбуждения. Кроме того, выявлено сильная спектральнокинетическая неэквивалентность активаторных центров Еu2+ и Се3+ в кварцевом стекле [7], поэтому была предпринята попытка обнаружить, проявление этой неэквивалентности в квантовом выходе люминесценции. Для этого была измерена его зависимость от длины волны возбуждающего света (λв).
Абсолютный квантовый выход люминесценции (q) измерялся на установке с фотометрическим шаром, аналогичной описанной в [2], по модифицированной методике. Обычно количество возбуждающего света, поглощенного образцом, и интенсивность его люминесценции измеряются с использованием полностью скрещенных светофильтров Фв и Фл, пропускающих только возбуждающий свет или свет люминесценции соответственно. Однако близость спектральных областей возбуждения и свечения не позволяет подобрать такие светофильтры для выделения широкополосной люминесценции Еu2+ и Се3+ (рис. 1) без сильных искажений ее спектра. Правда, если в спектральной области возбуждения независимо измерить пропускание образца, расположенного в шаре, то скрещенности светофильтров можно не добиваться, а определять интенсивность люминесценции с помощью приемного светофильтра Ф+л, который прозрачен и для возбуждающего света. Для этого только нужно учесть сигнал, создаваемый возбуждающим светом, который пропущен образцом в шаре. Роль Ф+л в нашем случае играл светофильтр БС-11 (3 мм).
Пропускание образцом возбуждающего света измерялось с использованием светофильтра Фв, установленного после сферы и не пропускающего свет люминесценции. В качестве Фв в зависимости от области возбуждения применялись следующие светофильтры: ФС-6 (4 мм) на область 410— 435 нм; УФС-1 ( 2мм) на область 380—410 нм; УФС-2 (2 мм) на область 350—380 нм; комбинация фильтров УФС-2 (2 мм) и ЖС-20 (3 мм) для λв=302 и 313 нм.
Процедура измерения квантового выхода стекол с Еu2+ и Се3+ сводиться к следующему. После сферы перед ФЭУ-71 устанавливался фильтр Фв, и без образца в полости сферы измерялась интенсивность возбуждающего света I0в. После внесения внутрь сферы исследуемого образца определялось количество света Iобрв, пропущенного образцом. После замены светофильтра Фв на Ф+л измерялся суммарный сигнал Iлобр, создаваемый светом люминесценции и той частью возбуждающего света, которую не поглотил образец. После удаления образца измерялся сигнал Iол от всего возбуждающего света.
Вычисление квантового выхода люминесценции производилось по формуле
q= Iлобр - Iло (1 - P)/Iло*P * K(λв)/Kлюм(λ) (1)
Р =Iво-Iвобр/Iво (2)
доля возбуждающего света, поглощенного образцом; К (λв) и Клюм (λ) — коэффициенты спектральной чувствительности установки с шаром для возбуждающего света и света люминесценции соответственно, причем Kлюм(λ)=∫I(λ) K(λ) dλ / ∫I(λ) dλ (3)(3) где 1 (λ) — интенсивность в спектре люминесценции, измеренном на установке, описанной в [7]. Спектральная чувствительность установки для измерения квантового выхода люминесценции определялась с помощью спектрально неселективного пироприемника ЛПП-2 при постановке после шара светофильтра Фл+.
Смотрите также
Структура и адгезионные свойства отверждённых эпоксидных смол
Введение
Целью
данной работы- изучить структуру и адгезионные свойства отверждённых эпоксидных
смол.
Эпоксидные
смолы обладают высокой адгезией к различным материалам и поэтому и ...